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自旋芯片与技术全国重点实验室名师讲堂第五期

浏览量:时间:2025-08-23

活动主题:自旋芯片与技术全国重点实验室名师讲堂第五期

活动类型:学术交流

举办单位:自旋芯片与技术全国重点实验室/微纳科学与分析测试协同创新中心

活动时间:2025-08-30 15:00-18:00

活动地点:会议中心2001

面向群体:全院师生


主讲嘉宾:

王润声,北京大学博雅特聘教授,信息科学技术学院副院长,集成电路学院设计自动化与计算系统系主任。长期从事集成电路科学与工程研究,主持国家重点研发计划项目等10余项国家级项目。已发表SCI/EI论文200余篇,其中包括50余篇专业顶级会议IEDM/ISSCCNLSI论文。应邀作IEEE国际学术会议特邀报告30余次。获中国专利授权40余项、国外专利授权20余项。相关成果被列入国际半导体技术路线指南(ITRS)。获2013年美国IEEE电子器件青年科学家奖(IEEE EDS Early Career Award),是首位来自非美国机构的获奖者;获2014年教育部自然科学一等奖;获2015年国家自然基金委优秀青年科学基金;获2021年国家杰出青年科学基金。任IEEE Transactions on Electron Devices(专业顶级期刊)、《中国科学:信息科学》(中、英文版)、MicroelectronicsReliability、《仪器仪表学报》等学术期刊编委;任IEDM、IRPS、ISEDA等IEEE国际学术会议TPC主席、分会主席或委员40余次。任中国仪器仪表学会第十届理事会成员,中国电子学会第九届半导体与集成技术分会副主任委员,中国物理学会第四届半导体物理专业委员会委员,中国EDA开放创新合作机制(EDA2)理事长。与国内外领先的集成电路制造、设计和EDA公司深入合作,相关成果已经成功得到转化应用。

内容摘要:

随着集成电路技术进入“后摩尔定律时代”(简称后摩尔时代),为了突破”算力瓶颈”学术界与工业界认识到,必须在底层的材料、工艺和器件,顶层的系统、架构和电路,以及共性的EDA等多个层面共同发力。面向未来计算应用,后摩尔时代的研究范式将从能效、复杂度、容错性这三个维度展开,在上述层面协同创新。本报告的第一部分首先简要介绍整体发展趋势,随后从上述三个维度展开讨论;国际上在能效和复杂度两个方面的研究较多,本报告重点强调三维集成(包括芯片级堆叠和晶体管级堆叠)的发展趋势;然后介绍经常被忽略的容错性这一方面的研究进展,并提出探讨与思考,以抛砖引玉。接着,报告的第二部分重点介绍晶体管堆的三维集成技术,包括其概念起源、国内外研究进展,其中特别介绍北大团队提出的可以超越CFET的超微缩倒装堆叠晶体管(FlipFET,缩写FFET)技术,并展望未来充分结合芯片堆和晶体管堆的"真三维”技术:倒装三维集成(flip 3D)以及”泛集成”(Hyper 3D)。

主讲嘉宾:

黄鹏,北京大学集成电路学院研究员,博雅青年学者,IEEE高级会员。分别于2010年和2015年获得西安电子科技大学学士学位和北京大学博士学位。主要研究方向为基于RRAM、FDSOI等新型器件的新型计算架构,包括存算一体、感存算一体和神经形态计算等。在NatureCommunications、Science Advances、IEDM、VLSI等高水平期刊和会议发表第一/通讯作者论文60余篇,获授权专利30余项,参与英文专著章节撰写2部。曾获2014年IEEE EDS博士生奖学金、2019年教育部自然科学二等奖,2020年入选国家自然科学基金优秀青年科学基金项目。担任未来计算研讨会、IEEE EDTM、CSTIC等国际会议程序委员会委员。

内容摘要:

在AI时代,数据被视为驱动发展的“三驾马车”之一,其中图像数据占据着重要地位。随着图像数据的生成速度持续加快并呈现海量化趋势,如何高效处理和存储这些数据成为当前信息领域的核心研究课题。传统技术路线通常是:图像由端侧图像传感器采集后,传输至处理单元;处理单元对图像进行JPEG、JPEG2000、BPG等压缩编码,然后将其存储在机械硬盘或固态硬盘等大容量存储器中。由于这种“感知-计算”“分离,以及存储器与计算单元的物理分离,系统在能耗和时间开销上存在显著瓶颈。本报告将围绕如何突破这一瓶颈展开,重点讨论基于RRAM、FDSOI等新型器件面向图像数据高效处理的新型架构,包括近存存内混合计算、传感器内计算以及感存算一体等创新模式。

联系人:自旋芯片与技术全国重点实验室/微纳科学与分析测试协同创新中心,徐媛

编辑:袁晓慧